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東莞市萬洋環(huán)境科技有限公司

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涂層測厚儀leeb252C
涂層測厚儀leeb252C
型號:
0

概述 

本儀器是磁性、渦流一體的便攜式涂層測厚儀,它能快速、無損傷地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域,是材料保護(hù)重要的儀器。


本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn) 

GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法

GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量 渦流方法

JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀

JJG 889-95 《磁阻法測厚儀》

JJG 818-93《電渦流式測厚儀》


主要功能 

●采用了磁性和渦流兩種測厚方法,即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

●具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式和單次測量方式

●具有三種測量模式:高精度測量模式可對多次測量取平均,并對可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行自動過濾,可確保測量值更加準(zhǔn)確、穩(wěn)定;快速測量模式可實(shí)現(xiàn)實(shí)時掃描功能。

●具有溫度補(bǔ)償功能:實(shí)時溫度補(bǔ)償技術(shù)可自動對環(huán)境溫度及測頭溫度改變引起的測量誤差進(jìn)行補(bǔ)償,使測量更準(zhǔn)確。

●設(shè)有五個統(tǒng)計(jì)量:平均值( MEAN)、 最大值( MAX)、最小值( MIN )測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV )。

●可采用零點(diǎn)校準(zhǔn)、單點(diǎn)校準(zhǔn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)法對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)并可用基本校準(zhǔn)和溫度系數(shù)校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正。

●具有存儲功能:最多可存儲500個測量值。

●具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存儲區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測量。

●可設(shè)置限界:對限界外的測量值自動報(bào)警。

●具有電源電量指示功能。

●操作過程有蜂鳴聲提示。

●說有三種關(guān)機(jī)方式:手動關(guān)機(jī)方式,超時自動關(guān)機(jī)方式以及低電量自動關(guān)機(jī)方式,并可設(shè)置超時自動關(guān)機(jī)等待時間


 規(guī)格參數(shù) 

項(xiàng)目

Leeb252C

測頭類型

F1

N1

工作原理

磁感應(yīng)

電渦流

測量范圍

0~1500μm

0~1500μm

低限分辨率

100um以下0.1um,100um以上1um 

示值誤差

零點(diǎn)校準(zhǔn)

±(3%H+1

兩點(diǎn)校準(zhǔn)

±[1~3%)H+1]

測試條件

最小曲率半徑mm

1.5

3

最小面積直徑mm

Φ7

Φ5

基本臨界厚度mm

0.5

0.3

工作環(huán)境

溫度

0~40

濕度

20%~90%

電源

二節(jié)7號堿性電池(1.5V

外形尺寸

112×70×23mm(主機(jī))

重量

80g

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、AAA型堿性電池

 
產(chǎn)品描述 
image.png

測量原理 

● 本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可測量磁性金屬基體( 如鐵、鈷、鎳 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。。

A、磁性法(F型測頭):

當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時,測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過其磁阻的改變量可測出覆蓋層的厚度。

image.png

B、渦流法(N型測頭):

利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場,當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產(chǎn)生電渦流,并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫ㄟ^測量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。

image.png

校準(zhǔn)方法 

本儀器提供兩種測量中使用的校準(zhǔn)方法:零點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn);以及兩種針對探頭的校準(zhǔn)方法:基本校準(zhǔn)

零點(diǎn)校準(zhǔn)

在不同基體上進(jìn)行測量時重新進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn),當(dāng)校準(zhǔn)使用的基體與待測試件基體性質(zhì)偏差較大時,測量值將會產(chǎn)生偏差。可使用以下兩種方法之一進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn):

方法1:a)在基體上進(jìn)行一次測量 ,屏幕顯示< xxμm>。

b)在提起測頭之后長按“校正” 鍵,屏顯<0.0um>,校準(zhǔn)完成。

方法2:可短按“校正” 進(jìn)入校準(zhǔn)界面,對基體進(jìn)行測量,按“確認(rèn)”鍵,然后跳過下一個界面“測量(1000um)時,按“跳過”鍵校準(zhǔn)完成。

兩點(diǎn)校準(zhǔn)

這一校準(zhǔn)法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼、合金鋼。

a)可短按“校正”進(jìn)入校準(zhǔn)界面,對基體進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn),屏幕顯示<xxxum> ,按“確認(rèn)”確認(rèn)。

b)按提示測量(1000um)的標(biāo)準(zhǔn)片,屏幕顯示< xxxum>。按“確認(rèn)”鍵確認(rèn)。(或沒有1000um的標(biāo)準(zhǔn)片時,找厚度接近的膜片代替,需要在儀器上設(shè)置膜片的厚度,操作方法如下,在提示測量( 1000um )的標(biāo)準(zhǔn)片時,按“設(shè)置”鍵,進(jìn)入設(shè)置校正值界面,按“∧”“∨”鍵來調(diào)整膜片的厚度值,然后按"確認(rèn)“鍵確認(rèn),返回到校正界面,這里測量( xx xum )就做相應(yīng)的改變了。


保養(yǎng)和維修 

1、環(huán)境要求

嚴(yán)格避免碰撞、重塵、潮濕、強(qiáng)磁場、油污等。

2、更換電池

當(dāng)屏幕上的電池電量在開機(jī)時顯示小于2格,就表示應(yīng)該更換電池。

3、儀器維修

出現(xiàn)故障時,請用戶不要拆機(jī)自修。填妥保修卡后,請將儀器交我公司維修部門,執(zhí)行保修條例。如果能將出現(xiàn)錯誤的情況簡單描述一下,一同寄出,我們將會非常感謝您。




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